電子顕微鏡による3次元ナノ計測、AIで高速化に成功
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東北大学多元物質科学研究所（IMRAM）の陣内浩司教授と樋口剛志助教は2018年4月、防衛大学校の萩田克美講師と共同で、集束イオンビーム－走査型電子顕微鏡（FIB-SEM）による3次元ナノ計測を、高い解像度で高速に行える技術を開発したと発表した。この技術はディープラーニング（深層学習）などAI（人工知能）技術 ...
April 16, 2018 at 09:45AM
